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想變頻串聯諧振成套試驗裝置?看這篇就夠了

  • 發布日期:2020-08-26      瀏覽次數:1353

    •     什么(me)是變頻串聯諧振(zhen)成套試(shi)驗裝(zhuang)置

          一(yi)般是(shi)由變頻電源、勵磁變壓(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)、電抗器(qi)(qi)(qi)(qi)和電容分(fen)壓(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)組成。被(bei)(bei)試品(pin)的電容與電抗器(qi)(qi)(qi)(qi)構成串聯諧振連接方式(shi);分(fen)壓(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)并聯在被(bei)(bei)試品(pin)上,用于測(ce)量被(bei)(bei)試品(pin)上的諧振電壓(ya),并作過壓(ya)保護信號。主要用在做(zuo)交(jiao)流電壓(ya)的耐受試驗。

          變頻串聯諧振成套試驗裝置主要特點和優勢:

          1、所需(xu)電(dian)源(yuan)(yuan)容(rong)量大(da)大(da)減小。系(xi)(xi)列串聯諧振(zhen)(zhen)試(shi)驗裝置是利用諧振(zhen)(zhen)電(dian)抗器和(he)被試(shi)品(pin)電(dian)容(rong)產生諧振(zhen)(zhen),從而得到所需(xu)高電(dian)壓和(he)大(da)電(dian)流的(de),在整個系(xi)(xi)統中(zhong),電(dian)源(yuan)(yuan)只需(xu)要提供系(xi)(xi)統中(zhong)有功消耗(hao)的(de)部分(fen),因(yin)此,試(shi)驗所需(xu)的(de)電(dian)源(yuan)(yuan)功率(lv)只有試(shi)驗容(rong)量的(de)1/Q倍(Q為品(pin)質因(yin)素)。

          2、設備的重(zhong)量和體(ti)積大(da)(da)大(da)(da)減小(xiao)。串聯諧振(zhen)電源(yuan)(yuan)中(zhong),不但省去了笨重(zhong)的大(da)(da)功率調(diao)壓(ya)裝(zhuang)置和普(pu)通的大(da)(da)功率工頻(pin)試(shi)(shi)驗(yan)變壓(ya)器,而且(qie),諧振(zhen)激磁電源(yuan)(yuan)只需試(shi)(shi)驗(yan)容量的1/Q,使得(de)系統重(zhong)量和體(ti)積大(da)(da)大(da)(da)減小(xiao),一般(ban)為普(pu)通試(shi)(shi)驗(yan)裝(zhuang)置的1/5~1/10。

          3。改善輸出(chu)電(dian)壓波形。諧(xie)振電(dian)源是諧(xie)振式濾波電(dian)路,能(neng)改善輸出(chu)電(dian)壓的(de)(de)波形畸(ji)變,獲得很好(hao)的(de)(de)正弦波,有效地防止了諧(xie)波峰(feng)值引(yin)起的(de)(de)對(dui)被試品的(de)(de)誤擊穿。

          4、防止大(da)的(de)(de)短(duan)路電(dian)流(liu)燒傷故障點(dian)。在諧振(zhen)狀態,當被(bei)試(shi)(shi)(shi)品(pin)的(de)(de)絕緣(yuan)(yuan)弱點(dian)被(bei)擊(ji)穿(chuan)(chuan)時(shi),電(dian)路立即脫諧(電(dian)容(rong)量變化,不滿足諧振(zhen)條件),回路電(dian)流(liu)迅速下降為(wei)正常試(shi)(shi)(shi)驗電(dian)流(liu)的(de)(de)1/Q。而(er)采用并聯諧振(zhen)或者傳統(tong)試(shi)(shi)(shi)驗變壓(ya)器的(de)(de)方式進行交流(liu)耐壓(ya)試(shi)(shi)(shi)驗時(shi),擊(ji)穿(chuan)(chuan)電(dian)流(liu)立即上(shang)升幾十倍,兩者相(xiang)(xiang)比,短(duan)路電(dian)流(liu)與擊(ji)穿(chuan)(chuan)電(dian)流(liu)相(xiang)(xiang)差數百(bai)倍。所以(yi),串(chuan)聯諧振(zhen)能有效地找到絕緣(yuan)(yuan)弱點(dian),又不存(cun)在大(da)的(de)(de)短(duan)路電(dian)流(liu)燒傷故障點(dian)的(de)(de)憂患。

          5、不(bu)會出現任何(he)恢復過電(dian)壓(ya)。被試品發生擊穿閃絡時,因失去(qu)諧振條件,高電(dian)壓(ya)也立(li)即消失,電(dian)弧(hu)立(li)刻熄滅(mie),裝置的保護回(hui)路動作(zuo),切斷(duan)輸出。